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de microscopía electrónica
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NOTICIAS
Correscopy, la solución para microscopía correlativa multiplataforma (SEM, AFM, LM, Espectroscopía, etc)
Para comprender verdaderamente tu muestra y la ciencia fundamental detrás de su comportamiento, necesitarás emplear múltiples modalidades de imagen a través de diferentes microscopios que podrían estar ubicados en instalaciones de imagen distintas.Pero cuando mueves tu muestra entre diferentes microscopios, terminas examinando diferentes áreas de la misma muestra, nunca la misma. Como resultado, obtienes imágenes diferentes de distintas partes de una muestra que nunca se pueden superponer. Esto es microscopía no correlativa. Conduce a datos incorrectos, conclusiones no respaldadas y,...
Cómo elegir el recubrimiento de sus muestras
En la píldora formativa de hoy aprendemos cómo la selección del material de recubrimiento óptimo depende de la muestra (no conductora), la aplicación y el coste. Hay que tener en cuenta que cada material se comporta de forma diferente cuando se recubre. Además de hacer que las muestras sean conductoras, un beneficio adicional de recubrir la muestra con un metal (altamente conductor) es que la mayoría de los materiales de recubrimiento tienen un mayor rendimiento de electrones secundarios (SE) que el...
Sistemas de vacío en microscopía electrónica, ¡Cómo prolongar su vida!
El cuidado del sistema de vacío de un microscopio electrónico de barrido (SEM) es esencial para mantener su funcionamiento óptimo y prolongar su vida útil. Hay dos aspectos fundamentales que hay que cuidar a lo largo de su vida:la preparación de las muestras, yel cuidado de los elementos que componen el sistema de vacíoEn esta píldora formativa de APRENDE SEM nos centramos en lo primero, RECOMENDACIONES en la preparación de las muestras,una etapa crítica para garantizar la calidad de las observaciones y prolongar la...
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