PresupuestoNuestros patrones o estándares de resolución SEM son una herramienta esencial para obtener una óptima resolución, configuración, tamaño de haz y corrección de astigmatismo en los sistemas SEM, CD-SEM, FESEM, FIB, Microprobe, Auger y SIMS.
Las partículas de oro (Au) de estos patrones están dispersadas individualmente sobre el sustrato de carbono y aportan un excelente contraste y nitidez. Proporcionan una fuerza de señal excelente para generar imágenes de electrones secundarios (SE). Y son igualmente adecuados para generar imágenes de electrones de retrodispersión de bajo voltaje (BSE).
Estos patrones los tenemos de 4 tipos, con cuatro rangos diferentes en el tamaño de las partículas de oro que lleva cada patrón:
– El modelo EM-Tec 1, con partículas de Au que oscilan entre 5 y 200 nm. Para pruebas de resolución en los SEMs estándar. Debe usarse con un aumento de 15 000x o superior.
– El modelo EM-Tec 2, con partículas de Au que van desde 30-300nm. Para pruebas de resolución de bajo voltaje (kV) y un nivel de aumnentos medio. Debe usarse con aumento de 10 000x o superior.
– El modelo EM-Tec 3, con partículas de Au que oscilan entre 3 y 50 nm. Para pruebas de alta resolución de SEM y FESEM. Debe usarse con aumento de 50 000x o superior.
– El modelo EM-Tec 4 con partículas de oro que oscilan entre 2 y 30 nm. para pruebas de ultra alta resolución de FESEM. Debe usarse con aumento de 100 000x o superior.
Los 4 modelos están disponibles sin montar, o ya montados en los portamuestras SEM más populares (en stubs para JEOL o HITACHI, en pin stubs para ZEISS y en pin stubs standard para TFS/FEI, TESCAN, PHILIPS, LEICA, etc.). En todos ellos el sustrato de carbono tiene Ø 6 mm de diámetro y 2 mm de altura.
En las fichas descriptivas de estos productos encontrará un mayor detalle de sus características y aplicaciones.