Los discos de sustrato SEM de metal de alta pureza, marca EM-Tec, están diseñados como discos de sustrato para análisis de rayos X con EDS/WDS o para análisis de partículas con SEM.
Especialmente útiles cuando los terminales estándar de aleación de aluminio o cobre generan picos de fondo superpuestos. Con el sustrato metálico adecuado, los oligoelementos de las partículas se pueden mejorar mediante fluorescencia de rayos X.
Con diámetro de Ø 25 mm son compatibles con los portamuestras SEM con 25 mm de diámetro. Los discos metálicos se fijan al portamuestras con pegatinas de carbono, pintura de carbono o pintura de plata.
Las características de los discos son:
- Los materiales disponibles son: Ag, Al, Co, Cu, Fe, In, Mg, Mo, Nb, Ni, Pb, Sn, Ti y Zn.
- Pureza 99,99% o superior
- Rango de espesor de 0,08 a 0,3 mm