Presupuesto- Inicio
- Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral, Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral, Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral, Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral, Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral, Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral, Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral, Pinzas para pin stubs con canal (ranura) perimetral, Consumibles básicos para NANOS
- Pinzas de acero inoxidable antimagnético con 120 mm de longitud, para agarre de pin stubs con canal (ranura) perimetral y Ø 12,7 mm de dámetro. Modelo: EM-Tec 127G.AM (1 unidad)
- SEM de sobremesa
- Preparación de Muestras
- Muestras metalográficas
- Resinas, ceras y polvos metálicos conductores
- Moldes y vasos de precipitado
- Clips para embebido metalográfico
- Pasta pulidora de diamante
- Otras pastas y líquidos de pulido
- Herramientas de corte con diamante
- Prensado y grabado
- Desgasificación y desecado
- Portamuestras
- Planos para muestras metalográficas individuales con agarre por tornillo
- Planos para múltiples muestras metalográficas con agarre por tornillo
- Portamuestras holder metalográficos con S-Clip
- Portamuestras holder preinclinados para EBSD y t-EBSD
- Portamuestras holder con referencia superior
- Portaobjetos negros
- Pinzas metalográficas
- Patrones de calibración con retícula individual
- Para microscopía correlativa y demostración
- Almacenamiento de muestras
- Bolsas de aluminio con cierre ziplock y termo sellado
- Cajas desecadoras de gel de sílice
- Cajas criogénicas para Rejillas TEM (grids)
- Cajas de plástico o aluminio para Rejillas TEM (grids)
- Cajas para rejillas de extracción de lamelas FIB (lift-out grids)
- Cajas almacenamiento de stubs con pin (Pin Stubs)
- Cajas de almacenamiento de stubs Hitachi M4
- Cajas de almacenamiento de stubs JEOL
- Cajas magnéticas para discos AFM/SPM
- Cajas almacenamiento portaobjetos de vidrio microscopía óptica
- Cajitas para transporte de obleas
- Cajas de plástico transparentes y otras
- Cajitas de plástico con membrana
- Cajitas de cartón
- Almacenamiento de muestras al vacío
- Substratos y soportes
- Discos para metalizar muestras (Sputter targets)
- Ø 19 mm diámetro para Gatan
- Ø 24 mm diámetro para Cryo-SEM con BioRad-Quorum-VG Microtech-Fisons-Thermo
- Ø 30 mm diámetro para Luxor
- Ø 50 mm diámetro para Anatech-Technics-Fullam-SEC-SPI
- Ø 54 mm diámetro para BalTec-HHV-Leica-Safematic-VacCoat
- Ø 57 mm diámetro para Agar-BioRad-Cressington-Emitech-EMS-Emscope-HoYeon-ISI-JEOL-Pelco-Polaron-Quorum-SPI
- Ø 58 mm diámetro (soporte incluido) para Emscope
- Ø 60 mm diámetro para Denton-Edwards
- Ø 60 mm diámetro (soporte incluido) para Emitech-EMS
- Ø 62 mm diámetro para Hitachi MC 1000
- Anulares Ø 3″ diámetro externo para Anatech-Technics
- Anulares Ø 82 mm diámetro externo para BioRad-Emscope-Fisons-Polaron-Quorum-VG Microtech-Thermo
- Varillas y fibras de carbono
- Hilos para metalizar muestras
- Preparación de muestras líquidas
- Adhesivos no conductores
- Cintas-pegatinas-epoxis-pegamentos-y-pinturas conductoras
- Herramientas especiales
- Pistola antiestática
- Manipuladores finos
- Pinzas
- Pulido, esmerilado y limpieza de metales y vidrio
- Muestras metalográficas
- Consumibles SEM
- Portamuestras SEM tipo stub y pin stub
- Adaptadores de stubs para uso multiplataforma
- Portamuestras SEM tipo holder
- Portamuestras SEM inclinados
- Portamuestras SEM para muestras pequeñas
- Portamuestras SEM con S-Clip
- Portamuestras SEM de perfil bajo (Low Profile) con S-Clip
- Portamuestras SEM con agarre de tornillo
- Portamuestras SEM con tornillo de banco
- Portamuestras SEM con sujeción por los cuatro lados
- Portamuestras para probetas metalográficas
- Portamuestras para EBSD y t-EBSD
- Portamuestras con referencia superior
- Portamuestras para imágenes STEM
- Portamuestras FIB para rejillas con lamelas y pin stubs
- Portamuestras SEM para Rejillas TEM (grids)
- Holders para microscopía correlativa y demostración
- Pinzas especiales para stubs y pin stubs
- Preparación de muestras líquidas SEM/EDS
- Cintas y pegatinas conductoras de carbono
- Filamentos-Cátodos-Cañones Schottky para SEM
- Otros accesorios y consumibles para JEOL Neoscope
- Otros accesorios y consumibles para SEMs Phenom
- Otros accesorios y consumibles para Hitachi TM
- Consumibles TEM
- Rejillas TEM (grids)
- Rejillas TEM (grids) con película de soporte
- Rejillas TEM (grids) con película de solo Carbono
- Rejillas TEM (grids) de localización posicional con película de Carbono perforada y sin perforar
- Rejillas TEM (grids) con película de Grafeno
- Rejillas TEM (grids) con películas de Grafeno y Carbono perforado resistente
- Rejillas TEM (grids) con película de Pioloform
- Rejillas TEM (grids) con película doble de Pioloform y Carbono
- Rejillas TEM (grids) con película de Formvar
- Rejillas TEM (grids) con película doble de Formvar y Carbono
- Cajas almacenamiento de Rejillas TEM (grids)
- Preparación muestras líquidas TEM/SEM/FESEM
- Soporte de nitruro de silicio
- Tinción de muestras TEM
- Tubos para embutido de muestras TEM
- Manipuladores de precisión para ultramicrotomía
- Filamentos-Cátodos-Cañones Schottky para TEM
- Pistola antiestática
- Consumibles FIB
- Microscopía correlativa y demostración
- Rejillas para extracción lamelas FIB (lift-out grids)
- Cajas para rejillas de extracción de lamelas FIB (lift-out grids)
- Portamuestras FIB tipo pin stub de perfil bajo (low profile)
- Portamuestras FIB inclinados para pin stubs
- Portamuestras FIB para rejillas con lamelas y pin stubs
- Pinzas especiales para pin stubs
- Consumibles AFM/SPM
- Microscopía correlativa y demostración
- Portamuestras AFM/SPM para medidas a 90°
- Discos metálicos para muestras AFM/SPM
- Cajas para almacenamiento de discos AFM/SPM
- Obleas (wafers) y chips de silicio recubiertas de oro
- Discos y láminas de mica
- Substratos de HOPG
- Pinzas para discos y cantilevers AFM/SPM
- Celdas para Muestras Líquidas
- Microscopía Óptica y Digital
- Patrones de Calibración
- Accesorios de Vacío
- Contenedores de vidrio de alto vacío
- Contenedores para almacenamiento y transporte de muestras al vacío
- Cámaras de vacío para desecar, desgasificar, limpiar y almacenar
- Bombas de vacío para laboratorio y producción
- Insonorización bombas de vacío
- Medidores de vacío (Vacuómetros)
- Sellador de vacío
- Aceites y grasas
- Desecadores de gel de sílice
- Sistemas de Recubrimiento
- Metalizadoras y evaporadoras
- Discos metalizadores (Sputter targets)
- Ø 19 mm diámetro para Gatan
- Ø 24 mm diámetro para Cryo-SEM con BioRad-Quorum-VG Microtech-Fisons-Thermo
- Ø 30 mm diámetro para Luxor
- Ø 50 mm diámetro para Anatech-Technics-Fullam-SEC-SPI
- Ø 54 mm diámetro para BalTec-HHV-Leica-Safematic-VacCoat
- Ø 57 mm diámetro para Agar-BioRad-Cressington-Emitech-EMS-Emscope-HoYeon-ISI-JEOL-Pelco-Polaron-Quorum-SPI
- Ø 58 mm diámetro (soporte incluido) para Emscope
- Ø 60 mm diámetro para Denton-Edwards
- Ø 60 mm diámetro (soporte incluido) para Emitech-EMS
- Ø 62 mm diámetro para Hitachi MC 1000
- Anulares Ø 3″ diámetro externo para Anatech-Technics
- Anulares Ø 82 mm diámetro externo para BioRad-Emscope-Fisons-Polaron-Quorum-VG Microtech-Thermo
- Varillas y fibras de carbono
- Hilos metalizadores para evaporación al vacío
- Metalografía
- Resinas, ceras y polvos conductores
- Vasos de precipitado de Teflon (PTFE)
- Moldes de silicona
- Clips de embebido metalográfico
- Pulido, esmerilado y limpieza
- Corte con diamante
- Herramientas de prensado y grabado
- Desgasificado y desecado
- Portamuestras metalográficos
- Portas planos con agarre por tornillo de muestras metalográficas individuales
- Portas planos con agarre por tornillo de muestras metalográficas múltiples
- Portamuestras tipo holder con S-Clip
- Portamuestras preinclinados tipo holder para EBSD y t-EBSD
- Portamuestras tipo holder con referencia superior
- Portaobjetos de aluminio negros
- Pinzas de metalografia
- Patrones de calibración de retícula individual
- Otro equipamiento
